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탁상형 비저항측정기
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product
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제품사양 |
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적용사례 |
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기술자료 |
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LORESTA-GX II
고유/표면/체적 저항측정기
표면 저저항측정기 (측정범위
10^-4 ~ 10^7 Ω)
측정범위를 0.001 x 10^-4 ~ 9.999 x 10^7 까지 확장 .
전류의 방향을 변경함으로써 실리콘 웨이퍼의 측정이 가능.
정전류 가변 기능 (미소 전류에 의한 샘플 측정기 가능)
2000건의 측정 결과를 USB메모리에 출력 가능.
7.5인치 LCD 터치패널 사용에 의한 조작성 향상.
제품 특징
필요한 때에 필요한 곳에서 저 저항 영역의 표면 저항률, 체적저항률(저항), 전도도를 고정 밀로 측정가능.
ASTM D 991, ISO 2878, ISO 1853, JIS K 7194, JIS R 1637
측정
방식 |
정전류 인가 방식/4탐침 방식
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데이터
표시 |
640x480 도트 7.5 인치 풀 컬러 TFT LCD 터치 패널
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컨버레이터 |
상한값, 하한값 각각 설정 가능
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프로브 |
전용 프로브 ASR, LSR, ESR, PSR, QR, BSR, NSCR, AR,
BR
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데이터
출력 |
USB 메모리
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전
원 |
AC85~264V 47~63Hz
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치수/중량 |
W320×D285×H110mm(수납 박스 오픈시 W320×D285×H200mm)
약 2.4kg
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표준
장비 |
ASR 프로브, 4핀 프로브 검사기
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기본구성품
RMH-501 : ASR Probe
RMH-304 : ASRㆍESRㆍLSR Probe Checker
Power Cable
Instruction Manual
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공 급 전 원 |
1A |
100mA |
10mA |
1mA |
100μA |
10μA |
1μA |
0.1μA |
측
정
범
위 |
10^-4 |
±(2.0% + 30dgt) |
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| 10^-3 |
±(2.0% + 20dgt) |
±(2.0% + 20dgt) |
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| 10^-2 |
±(1.0% + 5dgt) |
±(1.0% + 5dgt) |
±(2.0% + 20dgt) |
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| 10^-1 |
±(1.0% + 3dgt) |
±(1.0% + 3dgt) |
±(1.0% + 5dgt) |
±(2.0% + 20dgt) |
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| 10^0 |
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±(0.5% + 3dgt) |
±(0.5% + 3dgt) |
±(1.0% + 5dgt) |
±(2.0% + 20dgt) |
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| 10^1 |
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±(0.5% + 3dgt) |
±(0.5% + 3dgt) |
±(1.0% + 5dgt) |
±(2.0% + 20dgt) |
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| 10^2 |
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±(0.5% + 3dgt) |
±(0.5% + 3dgt) |
±(1.0% + 5dgt) |
±(2.0% + 20dgt) |
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| 10^3 |
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. |
±(0.5% + 3dgt) |
±(0.5% + 3dgt) |
±(1.0% + 5dgt) |
±(2.0% + 20dgt) |
| 10^4 |
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±(0.5% + 3dgt) |
±(0.5% + 3dgt) |
±(1.0% + 5dgt) |
| 10^5 |
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±(0.5% + 3dgt) |
±(1.0% + 3dgt) |
| 10^6 |
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±(1.0% + 3dgt) |
| 10^7 |
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±(2.0% + 5dgt) |
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도전성플락스틱, 전자파실드재료, 실리콘웨이퍼, 도전성고무, 전도성도료, 페이스트, 잉크, 금소계 박막, ITO유리, 필름등
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옵션 프로브 (기존 사용하시는 AX 및 GX프로브로 GX II 에 연결
할 수 없음)
ASR 프로브 GXⅡ[RMH-501] : 도전성 플라스틱, 도전성 도료, 박막 등
ESR 프로브 GXⅡ[RMH-502] : 카본분, 금속분 등을 혼합한 도전성 플라스틱과 같은
불균일 시료(특히 사출 성형품)
LSR 프로브 GXⅡ[RMH-503] : 도전성 고무, 필름상의 박막 등 부드러운 시료
PSR 프로브 GXⅡ[RMH-504] : 박막, 작은 시료, 좁은 장소
QR 프로브 GXⅡ[RMH-505] : 특히 작은 시료나 좁은 장소
BSR 프로브 GXⅡ[RMH-506] : 4핀을 2개로 분할 오른손과 왼손으로 1개씩 가지고
측정합니다. 본체는 GXⅡ 쪽이 풋 스위치를 사용할 수있어 편리
NSCR 프로브 GXⅡ[RMH-507] : 실리콘 웨이퍼 전용, 세라믹 등 단단하고 표면이 매끄러운
시료
AR 프로브 GXⅡ[RMH-508] : 단자법으로 접촉저항도 포함한 측정 때문에 높은 저항값이
됩니다. 저항값이 올바르지 않으므로 저항률 환산은 하지 않습니다. 주로 정성 평가용 (주의 :저항률의 측정은 할 수 없음)
BR 프로브 GXⅡ[RMH-509] : 2단자법으로 접촉 저항도 포함한 측정이므로 높은 저항값이
됩니다.저항값이 올바르지 않으므로 저항률 환산하지 않는다.주로 정성평가용 (주의 : 저항률을 측정할 수 없음)
옵션 고정용 스탠드 (Fixed Stand)
Loresta Series Fixed Stand |
Loresta Series Fixed Stand |
Hiresta UP Fixed Stand |
Hiresta UP Fixed Stand |
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모델명 : Loresta-GX II(MCP-T710)
