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	탁상형 비저항측정기

탁상형 비저항측정기

모델명 : Loresta-GX(MCP-T700) *****제조사단종모델

원산지 : 일본

제조사 : NITTOSEIKO ANALYTECH

가 격 : 문의(031-753-9550)

분류명 : 저항측정기, 표면저항측정기, 실리콘웨이퍼, 고유/표면/체적/전도도측정기

product

제품사양

적용사례

기술자료

LORESTA-GX (제조사 단종 대체모델 : LORESTA-GXII)

고유/표면/체적 저항측정기

표면 저저항측정기 (측정범위 10^-4 ~ 10^7 Ω)

측정범위를 0.001 x 10^-4 ~ 9.999 x 10^7 까지 확장 .

전류의 방향을 변경함으로써 실리콘 웨이퍼의 측정이 가능.

정전류 가변 기능 (미소 전류에 의한 샘플 측정기 가능)

2000건의 측정 결과를 USB메모리에 출력 가능.

7.5인치 LCD 터치패널 사용에 의한 조작성 향상.

제품 특징

필요한 때에 필요한 곳에서 저 저항 영역의 표면 저항률, 체적저항률(저항), 전도도를 고정 밀로 측정가능.

본 장치는 JIS K 7194에 준거한 측정법으로 각종 프로브의 도전성 플라스틱, ITO박막 실리콘웨이퍼 등 푝넓은 재료의 측정이 가능합니다.

.		공 급 전 원
.		1A	100mA	10mA	1mA	100μA	10μA	1μA	0.1μA
측 정 범 위	10^-4	±(2.0% + 30dgt)	.	.	.	.	.	.	.
	10^-3	±(2.0% + 20dgt)	±(2.0% + 20dgt)	.	.	.	.	.	.
	10^-2	±(1.0% + 5dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)	.	.	.	.	.
	10^-1	±(1.0% + 3dgt)	±(1.0% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)	.	.	.	.
	10^0	.	±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)	.	.	.
	10^1	.	.	±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)	.	.
	10^2	.	.	.	±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)	.
	10^3	.	.	.	.	±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)	±(2.0% + 20dgt)
	10^4	.	.	.	.	.	±(0.5% + 3dgt)	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 5dgt)
	10^5	.	.	.	.	.	.	±(0.5% + 3dgt)	±(1.0% + 3dgt)
	10^6	.	.	.	.	.	.	.	±(1.0% + 3dgt)
	10^7	.	.	.	.	.	.	.	±(2.0% + 5dgt)

도전성플락스틱, 전자파실드재료, 실리콘웨이퍼, 도전성고무, 전도성도료, 페이스트, 잉크, 금소계 박막, ITO유리, 필름등

옵션 프로브

옵션 고정용 스탠드 (Fixed Stand)

Loresta Series Fixed Stand

Hiresta UP Fixed Stand